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產(chǎn)品展示
產(chǎn)品分類(lèi)
PRODUCT激光粒度儀
噴霧粒度儀
x射線(xiàn)衍射儀
x射線(xiàn)熒光光譜儀
納米粒度電位儀
在線(xiàn)粒度分析儀
納米顆粒跟蹤分析儀
熔樣機(jī)
微量熱儀
顆粒圖像分析儀
多檢測(cè)器凝膠色譜系統(tǒng)
其它工業(yè)過(guò)程控制
分子相互作用儀
推薦展示
馬爾文帕納科激光粒度儀
馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽(yù)的 Mastersizer 3000硬件平臺(tái)上，進(jìn)一步優(yōu)化性能，增加了多項(xiàng)智能輔助功能，讓設(shè)備更易用，結(jié)果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺(tái)式XRF能譜儀一體機(jī)
馬爾文帕納科臺(tái)式XRF能譜儀一體機(jī)Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器，其包括光譜儀、內(nèi)置計(jì)算機(jī)、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發(fā)和檢測(cè)技術(shù)的新成果，是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測(cè)量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng)，在結(jié)合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，增加了多角度動(dòng)態(tài)...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強(qiáng)大、用途廣泛的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室測(cè)量解決方案，可測(cè)量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號(hào)相比，其粒度測(cè)量速度超過(guò)...
公司簡(jiǎn)介
使用我們的技術(shù)可以測(cè)量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱(chēng)、Zeta電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)，元素及物相等參數(shù)。這些信息對(duì)于預(yù)測(cè)產(chǎn)品在使用過(guò)程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能，從而實(shí)現(xiàn)高效制造至關(guān)重要。作為思百吉集團(tuán)成員,馬爾文帕納科(中國(guó))共有8個(gè)辦事處，總部位于上海，其他辦事處包括北京、廣州、武漢、沈陽(yáng)、西安、深圳和成都。上海建有1600多平方米的粒度，形貌，X射線(xiàn)等設(shè)備的專(zhuān)業(yè)實(shí)驗(yàn)室，完善的實(shí)驗(yàn)室設(shè)備可以提供客戶(hù)售前測(cè)樣及其售后培訓(xùn)的配套服務(wù)與優(yōu)良的技術(shù)...
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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的高精度物理性能測(cè)試儀器，通過(guò)追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)和光散射特性，實(shí)現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)同步測(cè)量，廣泛應(yīng)用于生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。技術(shù)原理：NTA技術(shù)結(jié)合激光散射與視頻顯微技術(shù)，利用納米顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)特性進(jìn)行表征。激光束照射樣品池后，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉，高速攝像頭（如CMOS傳感器）以每秒30幀的頻率記錄顆粒運(yùn)動(dòng)軌跡。通過(guò)分析擴(kuò)散系數(shù)并結(jié)合斯托克斯-愛(ài)因斯坦方程，可計(jì)算出顆粒的...
激光粒度分布儀是一種利用激光散射原理測(cè)量顆粒大小分布的精密儀器，其核心原理基于米氏散射理論（MieScatteringTheory）——當(dāng)激光束照射樣品顆粒時(shí)，顆粒會(huì)使激光產(chǎn)生散射，散射光的強(qiáng)度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。大顆粒產(chǎn)生前向小角度散射且光強(qiáng)較強(qiáng)，小顆粒則使光散射至更廣泛角度且光強(qiáng)較弱。通過(guò)高靈敏度光電探測(cè)器陣列捕獲不同角度的散射光信號(hào)，結(jié)合全Mie散射理論進(jìn)行復(fù)雜計(jì)算，儀器可精確反演出顆粒的粒度分布數(shù)據(jù)。激光粒度分布儀的安裝步驟：1、安裝前準(zhǔn)備人員要求：確保安裝...
X射線(xiàn)熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線(xiàn)熒光效應(yīng)的高精度元素分析儀器，通過(guò)測(cè)量樣品受激發(fā)后產(chǎn)生的特征X射線(xiàn)熒光，實(shí)現(xiàn)元素的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線(xiàn)轟擊樣品，使原子內(nèi)層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補(bǔ)時(shí)釋放出特定能量的X射線(xiàn)熒光，該熒光的能量或波長(zhǎng)與元素種類(lèi)一一對(duì)應(yīng)，強(qiáng)度則反映元素含量。X射線(xiàn)熒光光譜儀的主要結(jié)構(gòu)組成：一、X射線(xiàn)源（激發(fā)源）用于產(chǎn)生高能X射線(xiàn)，激發(fā)樣品中的原子發(fā)射特征X射線(xiàn)熒光。X射線(xiàn)管（最常見(jiàn)）：由陰極（燈絲）和陽(yáng)極（靶材）構(gòu)成。常用靶...
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